技術編號:9632623
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。隨著平面型半導體器件的尺寸越來越小,短溝道效應愈加明顯。為此,提出了立體型半導體器件如FinFET(鰭式場效應晶體管)。一般而言,FinFET包括在襯底上豎直形成的鰭以及與鰭相交的柵極。因此,溝道區形成于鰭中,且其寬度主要由鰭的高度決定。然而,在集成電路制造工藝中,難以控制晶片上形成的鰭的高度相同,從而導致晶片上器件性能的不一致性。特別是,在體FinFET(即,形成于體半導體襯底上的FinFET)中,在源漏區之間可能存在經由鰭下方襯底部分的泄漏,這也可稱作...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發人員的辛勤研發付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業用途。
該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。