技術編號：9581358
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。例如，為了對流過半導體開關元件(例如絕緣柵雙極型晶體管(IGBT))的電流進行檢測，公知的是采用具有主IGBT和感測IGBT的元件來檢測電流。通常，在主IGBT中流動的電流和在感測IGBT中流動的電流的比率大量變化。如果直接使用由感測IGBT所檢測到的電流，則檢測值也大量變化。當基于這種電流大量變化來執行主IGBT的過電流保護時，有必要將電流的最差值估計為較大的值。IGBT的元件尺寸需要根據最差值來選擇，以具有到擊穿的裕度。例如，JP 2013-19818...
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該類技術注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學習。