技術編號：9348934
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。在最終測試(FinalTest, FT)集成電路(Integrated Circuit，IC)的時候，往往都會將封裝后的集成電路放置在集成電路插座(IC socket)中，以測試封裝后的集成電路是否功能正常。針對功率集成電路進行最終測試時，通常需要抽取負載電流后，再測量負載后的輸出電壓是否符合規格要求。因此，我們需要一個有效率的集成電路測試裝置以及方法。發明內容有鑒于此，本發明提出一種集成電路，包括一第一電源單元、一第二電源單元以及一選擇開關。上述第一電源...
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