技術編號：93249
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明是一種現(xiàn)代物理測試制樣的新技術。隨著現(xiàn)代科學技術的發(fā)展，新開拓的技術領域愈來愈廣泛，同時對微觀世界的研究也愈來愈重視，如要探查空氣污染的塵埃的成份結構;要搞清物質合成時形成的新相;要分析鋼中及其他合金中微量元素夾雜物等等，開展這方面的研究借助于現(xiàn)代物理測試儀器十分有效，但是由于研究的對象往往在微米數(shù)量級范圍，所以在制備樣品時，尤其是在制備透射電鏡所需小于2000 超薄樣品時十分困難。目前這種樣品的制備一般采用離子濺射法，將樣品打穿，然后利用孔邊緣的薄層進行測試，但是這時的薄層不一定是所要研究的部位，另外濺射過...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。