技術編號:9202411
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。基于航天可靠性要求,防止單粒子瞬態(SET)錯誤和單粒子翻轉(SEU)引起錯誤操作,芯片設計采用基于時鐘相差三模冗余寄存器結構設計,但是現有的基于相差的三模時鐘產生電路都存在如下的問題,無法根據對抗輻照要求不同的應用環境,對時鐘相差值進行配置,使系統應用范圍較窄;時鐘產生電路中可能存在SET或SEU的單點故障,當發生單點故障時,三模時鐘會發生錯誤,將直接導致系統運行錯誤。從而導致現有技術中的三模時鐘產生電路的可靠性差,通用性較弱。發明內容針對現有技術中存在...
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該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
該類技術注重原理思路,無完整電路圖,適合研究學習。