技術編號：8940751
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發明屬于非球面光學檢測，涉及一種用于非球面環形子孔徑拼接的中 心偏移誤差補償方法。背景技術 非球面光學零件正越來越多地被用于空間光學、軍事國防、高科技民用等領域。目 前非球面的高精度檢測方法主要有零透鏡補償、計算全息及子孔徑拼接等方法。其中，子孔 徑拼接干涉測量方法主要是利用小口徑干涉儀對大孔徑非球面的各個局部子孔徑區域進 行測量，然后通過合理的拼接算法將各局部子孔徑測量數據拼接成全局的面形測量結果。 這種方法可以充分利用干涉儀的檢測能力，提高其非球面...
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