技術(shù)編號(hào):8805750
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。電子產(chǎn)品在出廠前,通常需要進(jìn)行一定時(shí)間的老化保證性能的穩(wěn)定,剔除早期失效品,是品質(zhì)控制的一項(xiàng)重要手段,也是產(chǎn)品最主要的性能指標(biāo)之一。系統(tǒng)老化即是仿真出一種高溫、惡劣的測(cè)試環(huán)境對(duì)被老化系統(tǒng)進(jìn)行一段時(shí)間的燒機(jī),將不合格的元器件篩選出來同時(shí)使產(chǎn)品的隱形缺陷在使用前被發(fā)現(xiàn)。老化測(cè)試可以使元器件盡快在幾十小時(shí)內(nèi)渡過其常溫下需要工作1000多小時(shí)的早期失效期,而進(jìn)入其相對(duì)穩(wěn)定長(zhǎng)達(dá)20多年的偶然失效期,同時(shí)由于生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的電路隱藏缺陷也能被及時(shí)激活發(fā)現(xiàn)?,F(xiàn)有的一種電源...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。