技術編號：8456726
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發明屬于納米光學成像，涉及到高數值孔徑物鏡的去偏振問題，特別 涉及到一種高數值孔徑物鏡下單納米粒子的高靈敏度光學識別與成像系統中產生去偏振 的最小臨界入射角度確定的方法。背景技術 高數值孔徑物鏡目前已經廣泛應用于科學研宄及工業應用，如醫學，生物學及納 米光學等領域。用光學方法進行納米粒子檢測，根據瑞利散射理論，粒子散射強度與粒子直 徑成正比，當用光照射粒子時，只有極少部分的入射光可與納米粒子相互作用，因此利用光 學方法檢測納米粒子是一個很大的挑戰。但在...
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