技術編號：8431805
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。NVM (Non-Volatile Memory，非揮發性存儲器)芯片失效分析的常用技術手段是使用失效位圖定位(Bitmap)，該方法是利用測試儀獲取存儲器芯片存儲單元的失效地址，建立物理地址位圖映射，從而在失效芯片上定位故障的物理位置，然后進行相應的失效機理分析和失效物理分析。此方法適用于能夠通過常規功能測試獲得存儲單元特征失效地址的分析，但是在一些情況下，缺陷可能導致存儲器單元陣列中的關鍵信號電位整體異常，使得對NVM芯片進行測試時，Read (讀取)...
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