技術(shù)編號(hào)：8360001

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成品的芯片和一整片晶圓上的芯片會(huì)存在各種各樣的差異，為了讓測(cè)試程序適用于這種差異，需要對(duì)一些比較敏感的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行shmoo測(cè)試，找到適合該芯片的最佳設(shè)定。shmoo測(cè)試是芯片測(cè)試中的一種常用技術(shù)手段，現(xiàn)在大部分ATE都具有shmoo測(cè)試功能，shmoo測(cè)試的目的就是為了找到芯片的實(shí)際特性和測(cè)試程序的差異，從而改善測(cè)試程序。但是現(xiàn)有技術(shù)中獲取的shmoo測(cè)試結(jié)果圖都相對(duì)簡(jiǎn)單，如圖1、2、3所示，僅僅憑借一張shmoo測(cè)試結(jié)果圖，只能看到所述芯片在通過測(cè)試時(shí)參...
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