技術編號：7744772
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及X線平板探測器的圖像分析技術，具體涉及一種處理X線平板探測器圖像壞線的方法及其裝置。 背景技術目前X線平板探測器較以前的膠片成像有很多優點，如密度分辨率高、易于存儲、 有靈活的后處理過程等等，但是由于其制作工藝復雜，從探測器采集的原始圖像一般不能 滿足實際檢測的要求。探測器上不同像元在同樣X線劑量輻射下其輸出并不一致，引起這 種現象的原因包括隨機噪聲、偏置誤差、像元響應不一致以及壞像元等等。除壞像元外，其 它像元的輸出都包含一定的有用信息，可以通...
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