技術編號：7533334
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及一種用于一掃描測試方案的測試的掃描雙穩觸發電路，其中該雙穩觸發電路是裝在一半導體集成電路中的。近年來，半導體集成電路向具有越來越多的層數發展。而且，具有各種功能的電路，如加法器、乘法器、RAM、ROM或其他類似的電路，已被集成進了半導體集成電路中。在這樣一個半導體電路中，一輸入信號通過半導體集成電路中的許多功能線路輸出，以致于在有錯誤發生時，很難推測錯誤出現在哪一功能線路中。因此，在集成有許多功能電路的半導體集成電路中，例如，以掃描雙穩態多諧振蕩...
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該類技術注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學習。