技術編號：7011424
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明公開了。本發明的探測器包括一襯底，在該襯底上依次為光學微腔的下反射鏡、下光程差補償層、上光程差補償層、光學微腔的上反射鏡，所述光學微腔內有作為吸光材料和導電通道的半導體碳納米材料光電器件；其中，所述光學微腔的腔態密度最大處與所述半導體碳納米材料光電器件的工作區重合，且對于同一波長的紅外光，通過所述下光程差補償層的光程與通過所述上光程差補償層的光程相等或相差半波長整數倍。本發明提高了對紅外弱光的探測能力，微腔加工工藝簡單、快捷；可應用于碳管電路光電器件...
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