技術編號：6880630
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對64線陶瓷四邊引線片式載體 元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。背景技術目前，在我國可靠性，國內老化試驗插座系列產品本體材料采用的是非耐高溫 普通工程塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅為-25°C +85°C，且老化工作時 間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結構簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環境弱、 一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領域，64線陶瓷四邊引 線...
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