技術編號：6631860
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明公開了，它包括粗略測量和精確測量兩個步驟粗略測量主要通過亮度投影曲線來獲取粗略的經緯紗根數；精確測量則是在粗略測量的基礎上，通過對原機織物圖像中的子圖像單獨進行投影來獲取亮度投影曲線，再通過計算這些曲線在水平方向的累計波峰個數來獲取精確的經緯紗根數，以此計算經緯紗密度。該方法不僅能快速實現單色機織物、單系統多色機織物和雙系統多色機織物密度的自動測量，且測量誤差較小，能夠滿足實際生產的需要。專利說明 [0001] 本發明屬圖像分析處理領域，應用于...
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