技術編號：6493852
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。在電路、尤其集成電子半導體電路或者半導體芯片被生產之前，就已經對其功能性進行了測試，以便避免制造出有故障的電路或者芯片。在電路中，故障或者缺陷例如可能在于，太高的電壓或者具有錯誤極性的電壓被施加到電路的單個器件上。在此允許哪些最大電壓被施加在器件上另外取決于各個器件類型；例如“薄氧化物”場效應晶體管上的最大允許電壓小于“厚氧化物”場效應晶體管上的最大允許電壓。另外，應該考慮的是，在復雜電路、也即例如具有不同無源和有源器件(電阻、晶體管等)的網絡中，器件上的...
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