技術編號：6430097
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及試卷測評，特別涉及一種。背景技術試卷質量的的好壞是對教學測試的反思既是對教師教的反思、也是對學生學的反思，因此，對試卷質量的評定是提高命題水平必不可少的一個環節。現有技術中評判試卷質量的方法通常只是評定試卷的難易程度客觀題難度計算公式P1 (客觀題難度指數)=試題答對人數/考生人數；主觀題難度計算公式P2 (主觀題難度指數)=試題平均得分/試題滿分。易、中、難的標準為易P (包括Pl和P2)>0.7， 中0. 4 < P < 0...
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