技術編號：6249952
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明提供，該方法分析被光阱俘獲顆粒位移的功率譜，該信號包括受限布朗運動對應的洛侖茲分布和受迫運動的尖峰。根據尖峰相對洛侖茲分布圍繞的面積與峰的高度，反演該光阱中微粒被位置探測器探測時的電壓比例系數，根據標準尺寸微粒粒徑，測量粘滯系數與溫度的比值。根據粘滯系數與溫度的關系，獲得光阱中的溫度。采集待測微粒在光阱中的受迫運動信號，然后使用功率譜校準探測器對該微粒的電壓比例系數。由熱噪聲的功率譜獲得擴散系數，根據標準微粒測量的溫度和粘滯系數以及Stokes-Ei...
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