技術編號：6235670
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明公開了，包括以下步驟獲取陶瓷表面的二維平面圖像及同一位置的立體圖像，將獲取的二維圖像和立體圖像分區域編號，通過二者的結合，逐一對比分析各區域內的全部特征，再記錄下特征在二維圖像及立體圖像下所展示的信息。本方法能夠減少垂直拍攝時給陶瓷鑒定帶來的觀測誤差，可以多維度、多視角的觀測記錄同一被攝區域的信息，并清晰的觀測陶瓷釉面的構造層級，使觀察者能全面的了解陶瓷的狀況，從而做出科學快捷的鑒定。專利說明 [0001] 本發明涉及。 背景技術 [000...
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