技術編號：6231584
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及，具體涉及一種空間紅外光學系統用紅外帶通濾光片在空間60K低溫條件下光譜位置漂移量的獲得方法，屬于低溫測試領域。背景技術隨著紅外遙感技術的發展，遙感儀器中光學通道數日益增多，為了能有效地提高光學分光系統的效率，使用了低溫列陣探測元件。它與各種波長的微型濾光片組合成為多光譜探測器件。這一趨勢相應要求紅外光學薄膜在低溫下具有良好光學性能，且紅外光學薄膜的使用溫度已經低于液氮溫度達到60K。空間紅外光學系統用紅外帶通濾光片通常在低溫下使用，因此研制過程...
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