技術(shù)編號:6213757
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型關(guān)于一種彎曲測試裝置,特別是關(guān)于一種光盤片彎曲測試裝置,通過彎曲試驗(yàn)來檢測光盤片質(zhì)量的好壞。背景技術(shù)隨著科技的進(jìn)步,光盤片如CD(Compact Disc)以及DVD(DigitalVersatile Disc)等的光學(xué)資料儲存媒體在市場上的需求量也與日俱增,因此光盤片品質(zhì)的好壞隨著也為消費(fèi)者購買選擇時的重要的考慮因素。已知的光盤片制作過程,包括母板制造、光盤片射出成型、電鍍反射層、保護(hù)膠形成以及合格率檢測等數(shù)個過程,就最后的合格率檢測過程來說,...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。