技術編號：6205987
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及一種材料厚度測量方法，更具體地說，涉及一種鋁及鋁合金薄片材料包覆層厚度的測量。背景技術在對鋁及鋁合金薄片材料的表面金屬鍍層、氧化物覆蓋層等包覆層厚度檢測測量，通常按照國家標準《金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法》所指明的方法進行測量，在對檢測試樣進行鑲嵌，對橫斷面進行適當的研磨、拋光和浸蝕后即可測量橫斷面包覆層的厚度。在前述國家標準中，對于鑲嵌步驟，為了防止包覆層橫斷面邊緣倒角，應支撐覆蓋層的外表面，覆蓋層與支撐物之間不應留間隙，通常采用與包覆層...
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