技術編號：6175833
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及。一種微粒分析設備，包括光檢測單元，被配置為檢測從作為分析對象的微粒產生的前向散射光。該光檢測單元包括具有去除包含在進入光檢測單元的光中的低頻噪聲的高通濾波器的電路，并根據前向散射光的預定頻率切換至高通濾波器。專利說明[0001]本公開涉及。具體地，涉及能夠提高從微粒產生的前向散射光的檢測精度的技術。背景技術[0002]在現有技術中，已經使用了一種微粒分析設備，該設備向在微芯片中形成的流動池或通路中流動的微粒輻射光且檢測從該微粒產生的散射光和從該...
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