技術編號：6173905
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及，該方法包括以下步驟(1)樣品安裝；(2)粘貼導電膠；(3)用硅漂移電制冷X射線能譜探測器采集元素的能譜面分布圖像。本發明所述的圖像采集方法，能夠增大元素能譜圖像中化學組成相近物相的灰度差異，緩解顆粒內部像素缺失、顆粒邊緣虛化、圖像整體漂移等現象，縮短圖像采集時間。該方法有助于降低制樣難度，縮短電鏡觀測條件優化試驗所需的時間，且拍攝過程無需液氮冷卻。專利說明[0001]本發明涉及材料分析領域，尤其涉及。背景技術[0002]在無機非金屬材料的物相組...
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