技術編號：6152806
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及圖像探測處理，具體屬于紅外焦平面探測技術 中圖像校正方法。 背景技術紅外焦平面陣列成像系統由于具有靈敏度高，體積小，結構緊湊，作 用距離遠、抗干擾性好、穿透煙霧能力強、可全天候、全天時工作等優 點，已成為紅外成像技術發展的趨勢，而凝視型紅外焦平面陣列已成為 未來紅外熱成像系統發展的主流探測器件。但由于受材料和工藝水平的限制，紅外焦平面陣列(IRFPA)各探測單元響應特性之間普遍存在著非均 勻性，它將導致紅外成像系統的溫度分辨率等性能顯著下降，以至...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發人員的辛勤研發付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業用途。
該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。