技術編號：6146675
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及虛擬儀器，是一種電路參數多點測試儀器。 背景技術現有的電路參數測試儀器，有些采用矩陣開關，但帶來了開關數量的浪費，有些采 用多路開關，但帶來了測試不靈活的缺點。另外，電路參數測試儀器的擴展性差，多臺測試 儀器不能同時工作。發明內容本發明目的在于克服電路參數測試中測試儀器擴展性差，多臺測試儀器不能同時 工作，僅用矩陣開關帶來的開關數量的浪費和僅用多路開關帶來的測試的不靈活的缺點， 提供一種擴展性強、拓撲結構靈活的開放式電路參數多點測試儀。本發明的技...
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