技術編號：6130162
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及一種光學測孔裝置。背景技術在現有技術中，對于軸向長度較長且直徑逐漸變小的孔的測量， 廣泛采用的量規來進行測量，即，將一規定大小的量規放入沿孔的 徑向放入其中，當量規不能沿孔的軸向進一步放入其中時，就可以 得到孔內直徑與量規直徑大小相近的部位的軸向位置，通過利用不 同大小的量規測試多次，得到孔內壁的數據。但該量規測量精度低。 此外，當孔的沿軸向的長度較長時，很難人工操作，因此，其操作 性較差。現有技術中，還有一種測孔裝置，其是如橡皮泥等具有一定附著...
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