技術編號：6113433
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及一種單根納米線在透射電子顯微鏡中原位彎曲變形的方法，利用透射電子顯微鏡可以實時觀測變形區原子結構的變化，揭示單根納米線的變形機制，屬于納米材料原位表征領域。背景技術隨著納米器件的發展和微機械系統的開發，對于單根納米線的在外力作用下力學性能研究顯的尤為迫切，透射電子顯微鏡是研究納米材料微結構的有力工具，但是由于納米材料結構細小，難于操縱，在透射電子顯微鏡中如何對單根納米線樣品進行固定和原位變形，從納米尺度和原子層次揭示納米線在外力作用下變形機制，成...
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