技術(shù)編號：6087837
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。下面的內(nèi)容涉及診斷成像領域。其特別適用于磁共振成像，并將在此具體參考磁共振成像來說明。然而，它在譬如磁共振波譜的核磁共振描繪技術(shù)中有更普遍的應用。磁共振成像掃描儀中磁場不均勻性引起成像和波譜偽影是已知的。這些偽影在較高磁場下以及對于特定技術(shù)尤其嚴重，譬如在穩(wěn)態(tài)自由進動(SSFP)成像中磁場不均勻性產(chǎn)生條帶缺陷，在化學位移成像中差的場均勻性產(chǎn)生譜線增寬和漂移。磁場的不均勻性在主磁體的設計中首先被提出，主磁體通常是超導線圈，盡管也使用電阻性主磁體線圈。磁場均勻...
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