技術編號：5997056
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及半導體性能測試領域，尤其涉及一種半導體光、電、磁及其相互耦合性質的綜合表征方法。背景技術當前在半導體領域，光電技術發展迅速，比如LED產業，蘊含著一場新的技術革命，可能會建立起一個全新的產業體系；在通信領域，3G信息時代的到來，計算機、互聯網絡的快速發展，均離不開半導體產業的迅速發展。而半導體產業的發展離不開先進的測試技術。光、電、力、磁是材料表征的4個基本方面，尤其是光、電、磁的性質，更是半導體材料和器件非常重要的參數。而目前的商業設備一般...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發人員的辛勤研發付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業用途。
該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。