技術編號：5966735
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及光學目標探測方法，特別是一種。背景技術成像光譜技術采用輻射成像技術和光譜測量技術相結合方法，能夠獲得目標的二維空間輻射光強信息和目標各點的光譜信息。其中干涉成像光譜技術是上世紀80年代發展起來的新型探測技術，利用干涉信息與光譜信息之間存在的傅里葉變換關系來計算目標的光譜信息，并且獲取目標的二維空間信息。干涉成像光譜技術與色散型成像光譜技術相比，具有高光通量、高目標分辨率等優點，具有廣闊的應用前景，在工業、農業、軍事偵察、大氣探測等領域具有重要的應...
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