技術(shù)編號(hào)：5845345

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本發(fā)明涉及電子產(chǎn)品的老化測(cè)試系統(tǒng)，特別涉及電源的老化測(cè)試系統(tǒng)。 背景技術(shù)老化測(cè)試是電子產(chǎn)品品質(zhì)控制的一項(xiàng)重要手段。電子產(chǎn)品在出廠前通常需要進(jìn)行一定時(shí) 間的老化保障其出廠的質(zhì)量，剔除早期失效的產(chǎn)品。電源作為電子產(chǎn)品或者電子產(chǎn)品的組成 部分，其本身的穩(wěn)定性直接影響著電子產(chǎn)品工作的穩(wěn)定性，所以電源出廠前需要進(jìn)行嚴(yán)格的 老化測(cè)試，而且如果能夠?qū)φ麄€(gè)電源老化的過程進(jìn)行實(shí)時(shí)的監(jiān)測(cè)，全程采集測(cè)試過程中的測(cè) 試結(jié)果，對(duì)于電源老化過程中出現(xiàn)的電壓、電流、溫度異常的情況進(jìn)行實(shí)...
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