技術編號：5843970
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及離子附著質譜分析方法(ion attachment massspectrometry)及用于 以無碎片狀態(fragment-free state)測量包含在樣品中的待測對象的質譜儀，特別涉及 離子附著質譜分析方法及用于以無碎片狀態測量包含在放出還原性氣體的樣品中或包含 還原性氣體的樣品中的待測對象的質譜儀。背景技術在質譜分析法中，包含在樣品中的待測對象的分子被離子化，其后，由電磁技術根 據質量(質量數)分離(fractionate)離子，從而測...
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