技術編號：5831776
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及如權利要求l前序部分所述的生成合成波長的方法，如權利要求9所述的測量距離的雙波長干涉測量方法，如權利要求10前序部分 所述的生成合成波長的裝置，以及如權利要求20所述的測量絕對距離的 雙波長干涉測量裝置。背景技術在許多大地測量應用中，采用了多種測量距離的方法、裝置和系統。 根據本領域的特定條件，典型的要求是精度或分辨率在lcm以下。然而， 在特定的應用中精度要求還會更高，如在距離測定和工業距離測量時， 某些情況下需要以亞毫米的分辨率測量長距離。如...
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