技術(shù)編號：40530521
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及存儲器測試，特別是涉及一種故障數(shù)據(jù)獲取方法、裝置、測試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、存儲器件在出廠之前需要進行測試以盡早發(fā)現(xiàn)故障，避免故障在出廠后用戶使用過程中發(fā)現(xiàn)，給用戶帶來不必要的損失。測試方法通常是通過處理器將預先設(shè)置的數(shù)據(jù)寫入被測存儲器件，然后對寫入數(shù)據(jù)進行讀取，將寫入的數(shù)據(jù)和讀取的數(shù)據(jù)進行比較，以此來測試存儲器件是否出現(xiàn)故障。對于批次存儲器件的測試，可通過多個被測存儲器件進行多次測試后統(tǒng)計累計故障次數(shù)，得到批次存儲器件的故障數(shù)據(jù)。在被測存儲器件數(shù)量多、容量大、測試次...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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