技術編號：3452387
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明提供一種飛行時間二次離子質譜分析裝置用的試樣固定部件，其能夠防止固體試樣的污染，能夠穩定地固定固體試樣，并且在飛行時間二次離子質譜分析裝置中能夠實現二次離子的準確檢測。本發明的飛行時間二次離子質譜分析裝置用試樣固定部件包含具備多個長度200μm以上的纖維狀柱狀物的纖維狀柱狀結構體。專利說明飛行時間二次離子質譜分析裝置用試樣固定部件 [0001]本發明涉及飛行時間二次離子質譜分析裝置用試樣固定部件。詳細而言，涉及用于在飛行時間二次離子質譜分析裝置...
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