技術編號：2853170
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。一種基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，該裝置包括進樣口，電離室，離子源和原位熱解裝置，質量分析器，接收器，數據系統，供電系統及真空系統；進樣口直接引入離子源和原位熱解裝置中，離子源和原位熱解裝置在電離室中，電離室緊靠質量分析器；接收器在質量分析器中，通過數據線與數據系統相連，在電離室和質量分析器中加入真空系統。該裝置可以探測樣品升溫脫附過程中產生的自由基與反應中間體，質譜分辨率可達到5000，具有分辨率高、檢測速度快、小型便攜的優點。適用于過程氣...
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