技術(shù)編號(hào):221962
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要本發(fā)明公開了一種玉米根冠結(jié)構(gòu)的分析方法,包括在當(dāng)年生玉米大田隨機(jī)選擇株行距均勻、種植密度相異的各取樣點(diǎn),在玉米生長(zhǎng)的拔節(jié)期、大口期、開花期、乳熟期、成熟期中的一個(gè)或幾個(gè)時(shí)期分別對(duì)各取樣點(diǎn)的各高度玉米根、冠層進(jìn)行取樣測(cè)定以及測(cè)定各高度玉米冠層的光照強(qiáng)度;將上述各取樣點(diǎn)測(cè)得的各根、冠層樣品的干重、各冠層的光照強(qiáng)度輸入數(shù)據(jù)處理設(shè)備進(jìn)行分析處理繪制出玉米群體結(jié)構(gòu)圖,得出玉米的最佳種植密度。本發(fā)明中,通過將玉米冠層和根系作為一個(gè)有機(jī)整體,系統(tǒng)研究其群體結(jié)構(gòu)特征,進(jìn)一步分析明確其功能及影響產(chǎn)量提高的限制因子,對(duì)培育高產(chǎn)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。