技術編號：12455204

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本發(fā)明涉及探測器技術領域，特別是涉及一種平板探測器電阻測試治具。背景技術目前，并沒有一種合適的方法及儀器，來測試組成平板探測器的零部件及各零部件之間的電阻阻值，從而無法知曉平板探測器內(nèi)零部件本身的阻值或者組裝之后的零部件之間的阻值，這樣一來，在圖紙定義及IQC(IncomingQualityControl，來料質(zhì)量控制)檢測阻值時，將會缺乏實際驗證基礎，不利于管控零部件的生產(chǎn)制備工藝和組裝水平。因此，如何快速有效地測試平板探測器的零部件及各零部件之間的電阻阻值，是亟待解決的問題。發(fā)明內(nèi)容鑒于以上...
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