技術編號:11946705
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及天線測試裝置領域,具體地,涉及一種新型的多探頭近場天線測量裝置。背景技術通訊的迅猛發展推動了天線的研發工作,因而出現了一些年產天線達到幾萬臺、品種達數百種的企業。天線測量的速度現如今已經成為企業研發工作的瓶頸。遠場測量法,雖然可以直接測出方向圖,但常常要求較大的測試距離,測試速度太慢,每次僅能測立體方向的一個切面,信息量太少,有可能遺漏一些重要的信息。近場測量技術代表著天線測量技術的發展方向。這樣技術的優點在于:所需要的場地小,可以在微波暗室內進行高精度的測量,免去了建造大型微波暗室的...
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