技術編號：11214598
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及一種用于損傷無損測試方法及裝置，特別是介質膜在飛秒激光輻照下缺陷態的測試方法及裝置。背景技術隨著科技的不斷進步，飛秒激光逐漸凸顯出越來越多的優勢，尤其是高功率飛秒激光，在醫療、信息存儲、超精細加工等領域得到廣泛應用，發展前景十分廣闊。薄膜元件作為飛秒激光系統中的重要組成部分，在大功率高能量激光系統中，其各項特性一直與系統正常有效運行密切相關。隨著飛秒激光脈寬逐漸縮短且峰值功率不斷增強，為確保系統穩定運行、助力飛秒激光技術發展，應用廣泛的薄膜元件的各項特性，尤其是損傷閾值，也亟需提升。介...
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