技術編號：11108787
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及痕量物質分析檢測領域，具體是一種基于空氣兩極放電的反應離子純化離子遷移譜裝置及方法。背景技術離子遷移譜（IonMobilitySpectrometry,IMS）和質譜是兩種非常重要的痕量氣體探測技術。與質譜相比，離子遷移譜技術最重要的特點是不需要真空系統，可以在大氣壓下工作。因此離子遷移譜儀器體積小、分析成本低，在環境污染、食品安全、生物醫藥、爆炸物和化學戰劑探測領域有著廣泛的應用。經過多年的研究和發展，離子遷移譜技術已經形成了傳統的離子遷移譜、非對稱射頻電場離子遷移譜和高場非對稱波形...
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