技術編號：11061045
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及集成電路分選領域，尤其是一種集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法。背景技術集成電路分選機是用于對集成電路產品進行性能測試的設備；集成電路測試時管腳朝上，為了實現集成電路測試后進行編帶，需要對集成電路翻面，使管腳朝下；目前的換向機構存在換向精度較低且集成電路易產生損傷的不足；因此，設計一種換向精度較高且集成電路不易產生損傷的集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法，成為亟待解決的問題。發明內容本發明的目的是為了克服目前的換向機構存在換向精度較低且集成電路易產生損傷的不足，提供一種換向精度較高且集...
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