技術編號：10854917
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。少數載流子壽命(簡稱少子壽命)是半導體晶體硅材料的一項重要參數，它對半導體器件性能、晶體硅太陽能電池的光電轉換效率都有重要的影響。當載流子連續產生時，在太陽能電池中，壽命決定了電子和空穴的穩定數量，這些數量決定了器件產生的電壓，因此，要求使用的硅材料的晶體硅體少子壽命應該盡可能高。現有的測試晶體硅體少子壽命的方法主要有化學鈍化法，其具體測試方法如下I)將經過去損傷層處理后的硅片在常溫下用去離子水稀釋的氟化氫溶液漂洗，去除表面的自然氧化層，2)將漂洗后的硅片...
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