技術編號：10644625
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 量子點的表面缺陷影響著量子點幾乎所有的性質，控制表面缺陷是量子點能否成 功實現應用價值的關鍵所在。 本申請發明人經過試驗發現，采用目前常規方法得到的CdSe/CdS核殼量子點上主 要存在兩種空穴缺陷，分別來源于也巧日表面的硫原子。其中，也S可W有效地澤滅CdSe/CdS 核殼量子點的巧光，導致該量子點的應用價值大大降低。但是，現有技術沒有提出如何解決 來源于也S和表面的硫原子的表面缺陷的方案。發明內容 本發明的主要目的在于提供一種，W解決現有技術中 的合...
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