技術編號:10623937
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。在現有的集成電路功耗測試技術中,一種功耗測試方法包括采用毫歐級電阻串聯到電源通路上,隨后使用萬用表測試兩端電壓以進行電流及功耗計算;這種方法的缺陷在于使用手動測量的方法導致的工作繁雜,同時容易引入人為誤差。另一種功耗測試方法為采用數字電壓源和電流表配合搭建自動測試系統;這種方法多用于整機測試,該方法的問題在于由于集成電路的供電電壓種類較多,所以需要使用很多電壓表、電流表以及紛繁雜亂的接線,從而導致測試成本的提高。此外,還有一種功耗測試方法為使用現有中唯一一...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發人員的辛勤研發付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業用途。
該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。