技術編號：10614459
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。在半導體制造領域中需要對失效的芯片，比如存儲器芯片進行失效分析以確定失效的原因進而對工藝進行改善，提高良率。擾碼驗證是一種常用的技術手段。擾碼驗證，就是讀取整個存儲器bit的物理排布，給出一個電學地址，就可以在芯片具體物理地址上找到對應bit，這是進行存儲器失效分析的關鍵一環。出于數據安全性原因/電路設計原因(如傳輸延時)等在芯片設計過程中使用諸如邏輯公式/跳線等方法，目的/非目的性地使存儲器內各存儲單元地址序列與實際存儲器陣列地址排序不相等。這一流程被稱...
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