技術編號：10568239
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。非制冷紅外焦平面陣列屬于大面陣的探測器，由于制作器件的半導體材料的不一致性，掩膜誤差、缺陷、工藝等原因，紅外焦平面探測器存在不可避免的非均勻性、盲元，如果忽視這些問題，成像圖像信噪比很差。這些盲元點在圖像中表現為其灰度值變化緩慢，不能正確地反映場景的變化。對于盲元的定義，主要是從器件對黑體輻射的響應程度作為量化指標的。從目前文獻來看，國內外現有的盲元檢測與補償算法主要為盲元矯正標定法，該方法標定盲元的位置信息，然后由周圍均值去矯正盲元，該方法能精確矯正盲元...
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