技術編號：10079370
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。全自動比表面積及孔隙度分析儀適用于粉體和顆粒材料的比表面積、孔徑和真密度的檢測分析，廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產企業產品質量監控。美國麥克默瑞提克公司所設計的型號TriStar TM II 3020的全自動比表面積和孔隙分析儀是全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀，能夠提高質量控制分析的檢測速度，并提供高精度、高分辨率和數據處理功能以滿足絕大多數研發的需要，但是其中配套的送樣棒也存在一部分的問題1、所使用的送樣棒(玻璃制)會和某些粉體樣品產...
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