一種確定細粒沉積巖中總有機碳的方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及石油勘探技術領域，尤其涉及一種確定細粒沉積巖中總有機碳的方 法。
【背景技術】
[0002] 隨著常規油氣勘探開發程度的不斷提高，地質認識的不斷深化，技術的不斷進步， 非常規油氣勘探日益興盛，國內外的勘探開發實踐業已展示出致密油、頁巖氣等非常規油 氣領域巨大的潛力。而致密油、頁巖氣整體上具有資源豐度低、儲層品質差、非均質性及隱 蔽性更強的特點，因此開展烴源巖品質、儲層品質、工程品質評價以確定致密油、頁巖氣"甜 點"對非常規油氣勘探開發具有重要意義，其中，T0C(TotalOrganicCarbon，總有機碳）是 烴源巖品質評價的重要指標之一，一般T0C越大，烴源巖產油氣也越大，T0C不僅是衡量烴 源巖生烴潛力的重要參數，其值大小也直接影響著吸附氣的含量。
[0003] 現有技術中，通過測井信息確定T0C的方法主要有AlgR法、數理統計法、人工神 經網絡法等。
[0004]algR法是通過對電阻率和聲波測井曲線進行適當刻度，將兩條測井曲線在非烴 源巖層段重合，而在烴源巖層段出現一定幅度差（AlgR)，認為測井曲線特征的改變僅僅由 總有機碳的改變而引起，兩條曲線幅度差越大，T0C越高，故可通過AlgR計算T0C含量。但 是AlgR法存在一定的局限性。一是AlgR~T0C兩者之間并非都是線性關系，其計算精 度也依賴于實測資料對兩者關系的標定；二是該方法主要適用于未成熟~高成熟烴源巖演 化階段，在高到過高成熟階段時其計算結果往往不準確；三是該方法在常規砂泥巖剖面應 用較成功，其中原因之一是容易找到電阻率、聲波測井曲線的重合段如砂巖段，而對于前三 角洲~深湖相的細粒沉積，縱向巖性分異差，找到非烴源巖如砂巖段的重合段比較困難；四 是泥頁巖尤其是高T0C豐度的泥頁巖沉積的環境也有利于黃鐵礦的發育，黃鐵礦可以明顯 降低電阻率值，而AlgR法無法減少黃鐵礦的影響，基于上述四點可以看出，通過AlgR法 確定細粒沉積巖中有機碳含量的準確度不高。
【發明內容】
[0005] 本發明提供了一種確定細粒沉積巖中總有機碳的方法，解決了現有技術方案確定 細粒沉積巖中的有機碳含量準確度不高的技術問題。
[0006] 本發明公開的一種確定細粒沉積巖中總有機碳的方法，包括如下步驟：
[0007] 獲取關鍵井的巖心樣本的總有機碳；獲取所述巖心樣本的第一類型測井參數值和 所述巖心樣本的第二類型測井參數值，其中，所述第一類型測井參數值和所述第二類型測 井參數值均屬于三孔隙度測井信息；根據所述第一類型測井參數值和所述第二類型測井參 數值建立所述關鍵井的AX-Y，其中，X表示第一類型測井曲線，Y表示第二類型測井曲線， 所述AX-Y表示所述第一類型測井曲線與所述第二類型測井曲線之間的距離；建立所述 AX-Y與所述總有機碳之間的定量關系函數；根據所述定量關系函數計算出無取心井的總 有機碳。
[0008] 優選的，所述巖心樣本具體為地層厚度大于30cm~50cm的樣本。
[0009] 優選的，在所述根據所述第一類型測井參數值和所述第二類型測井參數值建立所 述關鍵井的AX-Y之后，所述方法還包括：將所述第一類型測井曲線與所述第二類型測井 曲線的特定交匯區填充為第一顏色，以建立起烴源巖的快速識別模式。
[0010] 優選的，所述根據所述定量關系函數計算出無取心井的總有機碳，包括：確定所 述第一類型測井曲線的第一標準化校正值，確定所述第二類型測井曲線的第二標準化校正 值；根據所述第一標準化校正值和所述第二標準化校正值對所述AX-Y進行曲線標準化； 將所述無取心井匹配到所述第一類型測井參數值的刻度范圍和所述第二類型測井參數值 的刻度范圍；將所述無取心井帶入曲線標準化后的所述AX-Y關系式計算出所述無取心井 的總有機碳。
[0011] 優選的，所述第一類型測井參數值為聲波AC測井參數值，所述第二類型測井參數 值為補償密度DEN測井參數值時，根據所述第一類型測井參數值和所述第二類型測井參數 值建立所述關鍵井的AX-Y，具體為：AC測井曲線與DEN測井曲線的坐標值在同一方向增 大，根據如下公式建立所述關鍵井的AAC-DEN:
[0012]
r2：rI-， i-v .1
[0013] 其中，At為聲波時差，Pb為體積密度，At挪At2為所述AC測井參數值的刻度 范圍，Atl〈At2,pJPP2為所述DEN測井參數值的刻度范圍，P
[0014] 優選的，所述第一類型測井參數值為聲波AC測井參數值，所述第二類型測井參數 值為補償中子CNL測井參數值時，所述根據所述第一類型測井參數值和所述第二類型測井 參數值建立所述關鍵井的AX-Y，具體為：AC測井曲線與CNL測井曲線的坐標值相反方向增 大，根據如下公式建立所述關鍵井的AAC-CNL:
[0015]
[0016] 兵甲，At73戶汲叮左，<I>N73〒t札隙皮，At，A12為所述AC測井參數值的刻 度范圍，Atl〈At2,V和小N2為所述CNL測井參數值的刻度范圍，小N1〈巾N2。
[0017] 優選的，所述第二類型測井參數值為補償密度DEN測井參數值，所述第二類型測 井參數值為補償中子CNL測井參數值時，所述根據所述第一類型測井參數值和所述第二類 型測井參數值建立所述關鍵井的AX-Y，具體為：CNL測井曲線與DEN測井曲線的坐標值在 同一方向增大，根據如下公式建立所述關鍵井的ACNL-DEN:
[0018]
[0019] 其中，4^為中子孔隙度，Pb為體積密度，巾m和巾為所述CNL測井參數值的刻 度范圍，f、，P2為所述DEN測井參數值的刻度范圍，P
[0020] 優選的，所述根據所述第一標準化校正值和所述第二標準化校正值對所述aX-Y 進行曲線標準化，具體根據如下公式進行：
[0021]
[0022] 其中，At標為所述AC測井參數值的標準化校正值，Ap標為所述DEN測井參數值 的標準化校正值，AtdPA12為所述AC測井參數值的刻度范圍，AtZAt2,PJPP2為所 述DEN測井參數值的刻度范圍，Pl〈P2。
[0023] 優選的，所述根據所述第一標準化校正值和所述第二標準化校正值對所述AX-Y 進行曲線標準化，具體根據如下公式進行：
[0024]
[0025] 其中，At標為所述AC測井參數值的標準化校正值，巾N標為所述CNL測井參數值的 標準化校正值，AtJPAt2為所述AC測井參數值的刻度范圍，AtZAty<i>Ni和巾為所 述CNL測井參數值的刻度范圍，（i>N1〈小N2。
[0026] 優選的，所述根據所述第一標準化校正值和所述第二標準化校正值對所述AX-Y 進行曲線標準化，具體根據如下公式進行：
[0027]
[0028] 其中，為所述CNL測井參數值的標準化校正值，Ap#為所述DEN測井參數值 的標準化校正值，巾N1和巾N2為所述CNL測井參數值的刻度范圍，<i>N1〈<i>N；!，Pi和P2為所 述DEN測井參數值的刻度范圍，Pl〈P2。
[0029] 本發明實施例提供的一個或多個技術方案，至少具有如下技術效果或優點：
[0030] 1、本發明實施例的技術方案只應用兩類常規三孔隙度測井信息來建立關鍵井建 立的定量關系函數，根據該定量關系函數計算出無取心井的T0C，從而對無取心井的地層 T0C連續計算，進而實現無取心井的T0C的連續定量評價，地層T0C連續計算只與巖心樣本 的巖性相關，而不受烴源巖成熟的影響，可解決現有AlogR法不適用于高成熟烴源巖到過 高成熟烴源巖的問題，且因為沒有利用對黃鐵礦敏感的電阻率測井信息，因此避免了黃鐵 礦影響，從而相比現有的AlgR法能夠提高T0C確定的準確度。
[0031] 2、本發明無需像Al〇gR法那樣分段計算，也無需選擇多個測井參數，因此實現了 計算簡單、操作方便的目的。
【附圖說明】
[0032] 為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現 有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本